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Title
Process control for a large area high resolution hall scanner / David Bader
Additional Titles
Prozesssteuerung eines hochauflösenden Raster-Hallsondenmikroskops mit großem Rasterbereich
AuthorBader, David
CensorEisterer, Michael
PublishedWien, 2017
Description67 Seiten : Illustrationen, Diagramme
Institutional NoteTechnische Universität Wien, Diplomarbeit, 2017
Annotation
Zusammenfassung in deutscher Sprache
Annotation
Abweichender Titel nach Übersetzung der Verfasserin/des Verfassers
LanguageEnglish
Document typeThesis (Diplom)
Keywords (DE)Rastermikroskopie / Hallsonden / Supraleitung / Prozesssteuerung
Keywords (EN)scanning Hall probe microscopy / Superconductivity / Process Control
URNurn:nbn:at:at-ubtuw:1-101805 Persistent Identifier (URN)
Restriction-Information
 The work is publicly available
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Process control for a large area high resolution hall scanner [8.73 mb]
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Abstract (German)

Das Ziel dieser Arbeit war, die Software für einen neuen Nano-Hallscanner mit einem Interferometriesystem zur Positionsregelung zu schreiben. Diese Software ist dafür verantwortlich, die Position und Bewegung der Hallsonde des Scanners zu steuern und zu regeln, sowie mit allen anderen Geräten, die für das Scanner-System verwendet werden, zu kommunizieren und diese zu steuern. Ein weiterer Teil dieser Arbeit war der Aufbau dieser Geräte und deren Verkabelung mit dem Steuerungs-PC. Weiters wurde die Software dazu verwendet, um Interferenzmuster zu messen und darzustellen und damit den Aufbau des Interferometriesystems zu unterstützen.

Abstract (English)

The goal of this thesis was to build the software for a new nano Hall scanner with an interferometry system for positioning feedback. The software is responsible for controlling the position and movement of the Hall probe of this scanner, as well as communicating with and controlling all other devices used for the scanning system. Also part of this work was setting up and connecting these devices with the controlling PC. Additionally, the software was used to measure and plot interference patterns to help setting up the interferometry system correctly.

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