Titelaufnahme

Titel
Transmission electron microscopic analysis of La0.6Sr0.4Co3-delta thin film cathodes for solid oxide fuel cells, deposited with pulsed laser deposition technique / von Alexander Penn
VerfasserPenn, Alexander
Begutachter / BegutachterinStöger-Pollach, Michael ; Fleig, Jürgen ; Kubicek, Markus
Erschienen2012
Umfang85 S. : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftWien, Techn. Univ., Dipl.-Arb., 2012
Anmerkung
Zsfassung in dt. Sprache
SpracheEnglisch
DokumenttypDiplomarbeit
Schlagwörter (DE)SOFC / dünnschichten / TEM / LSC / PLD / epitaktisch / Penn
Schlagwörter (EN)SOFC / thin films / TEM / LSC / PLD / epitaxial / structure / Penn
URNurn:nbn:at:at-ubtuw:1-49061 Persistent Identifier (URN)
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Transmission electron microscopic analysis of La0.6Sr0.4Co3-delta thin film cathodes for solid oxide fuel cells, deposited with pulsed laser deposition technique [36.77 mb]
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Zusammenfassung (Deutsch)

error: u'Im Rahmen der im Folgenden dokumentierten Diplomarbeit wurden D\xfcnnschichten aus La0.6Sr0.4CoO3 (LSC) auf Einkristallen aus Yttrium stabilisierem Zirkonoxid (YSZ) abgeschieden und deren Kristallstruktur im Transmissions-Elektronenmikro- skop (TEM) charakterisiert. Die Abscheidung erfolgte mit gepulster Laser Deposi- tions-Technik (PLD) unter vier verschiedenen Bedingungen f\xfcr Sauersto\x0bff-Partialdruck p(O2) (0.4 mbar und 0.04 mbar) und Temperatur T (450 \x0e C und 600 C).Bei der TEM-Pr\xe4paration wurde Querschli\x0bff-Technik angewendet um sehr d\xfcunne Proben f\xfcr Hochaufl\xf6sungs-Mikroskopie herzustellen. Weiters wurden auch FIB-Schnitte angefertigt, die f\xfcr statistische Kornanalyse verwendet wurden. Alle vier hergestellten LSC Arten zeigten S\xe4ulenwachstum wobei der Durchmesser der S\xe4ulen mit zunehmender Schichtdicke gro\x19er wurde. Wachstumsraten f\xfcr Schichten, die bei 0.04 mbar p(O2) abgeschieden wurden, waren um ca. 30 % h\xf6her als jene bei 0.4 mbar p(O2). LSC Typ 1 Schichten (T =600 \x0eC und p(O2) = 0.04 mbar) waren vollstandig dicht und kristallin. Beugungsbilder zeigen eine bevorzugte Kristallwachstumsorientierung (1'

Zusammenfassung (Englisch)

error: u'In this work La0.6Sr0.4CoO3(LSC) thin films (between 140 and 200 nm thickness) were deposited on Yttria stabilized zirconia (YSZ) monocrystalline substrates with a PLD technique and characterized with transmission electron microscopy (TEM). Deposition followed four PLD conditions di\x0bffering only in oxygen partial pressure p(O2) (0.4 mbar and 0.04 mbar) and temperature T (450\x0eC and 600\x0eC. The TEM-preparation of the thin films was realized in cross-section approach. Ta- pered diamond grinding and polishing technique without further ion milling delivered thinnest TEM-specimens for high resolution TEM (HRTEM) analysis. FIB preparation was also performed for statistical grain studies. All of the prepared LSC thin films showed columnar structure with column diameters increasing with fillm thickness. Growth rates for thin lms deposited at 0.04 mbar p(O2) where approx. 30% higher than for those deposited at 0.4 mbar p(O2). Type 1 LSC flms(T =600 \x0eC and p(O2) = 0.04 mbar) were fully dense and crystalline. Di\x0bffration images revealed a preferential crystal orientation (1'