Titelaufnahme

Titel
Elektron-Loch-Paar Anregung durch Photoelektronen in 16 metallischen Festkörpern / von Franz Schmidt
Weitere Titel
Electron-hole-pair generation by photoelectrons in 16 metallic solids
Verfasser / Verfasserin Schmidt, Franz
Begutachter / BegutachterinWerner, Wolfgang
Erschienen2010
Umfang115 S. : Ill., zahlr. graph. Darst.
HochschulschriftWien, Techn. Univ., Dipl.-Arb., 2010
Anmerkung
Abweichender Titel laut Übersetzung der Verfasserin/des Verfassers
SpracheDeutsch
DokumenttypDiplomarbeit
Schlagwörter (DE)Elektron-Loch-Paar Anregung / Photoelektronen / XPS / Spektrumsentfaltung / Hintergrundabzug / intrinsische Verluste
URNurn:nbn:at:at-ubtuw:1-36782 Persistent Identifier (URN)
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Elektron-Loch-Paar Anregung durch Photoelektronen in 16 metallischen Festkörpern [2.4 mb]
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Zusammenfassung (Deutsch)

Es wurden 16 metallische Festkörper (Ti, V, Fe, Co, Cu, Ni, Zn, Mo, Pd, Ag, Te, Ta, W, Pt, Au, Bi) mit Photoelektronenspektroskopie (XPS) untersucht und unterschiedliche Verlustprozesse studiert, die Photoelektronen nach ihrer Erzeugung bis hin zum Austritt aus dem Festkörper erleiden. Während 2 der insgesamt 4 betrachteten Verlustprozesse bereits weitgehend verstanden und bekannt sind (Volums- und Obeflächenverluste), lag das Ziel dieser Arbeit darin, neue Aussagen über die restlichen 2 Verlustprozesse machen zu können (intrinsische und Elektron-Loch-Paar Verluste). Um dieses Ziel zu erreichen, wurde eine Vielzahl von Messdaten analysiert. Dabei wurde nach Parametern gesucht, mit welchen es gelingen sollte, die besagten Verlustprozesse zu beschreiben. Gleichzeitig sollte gezeigt werden, in wie weit die verwendeten Theorien durch experimentelle Daten bestätigt werden können und, weitaus bedeutender, ob sich neue Gesetzmäßigkeiten finden lassen, die den Elektronentransport von Photoelektronen in metallischen Festkörpern beschreiben. Es wurde eine Software entwickelt, die einerseits eine Berechnung des Hintergrundabzuges der gemessenen Daten und andereseits die Simulation von XPS-Spektren ermöglicht. Das Hintergrundabzugsprogramm berücksichtigt Volums-, Obeflächen- und intrinsische Verluste, während die Simulation der Spektren Elektron-Loch-Paar Verluste einbezieht.

Durch Anpassung relevanter Parameter, wurde versucht hintergrundabgezogene (gemessene) und simulierte Spektren zur Deckung zu bringen, um somit zu überprüfen, ob sämtliche Verlustprozesse erfasst sind und korrekt beschrieben werden. Für intrinsische und Elektron-Loch-Paar Verluste wurde ein Datensatz von Parametern bestimmt, anhand deren eine Übereinstimmung für einige der untersuchten Materialien in guter Weise möglich wurde, und somit eine annähernd vollständige Beschreibung der Verlustprozesse für einen Teil der untersuchten Elemente möglich ist.

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