Titelaufnahme

Titel
Investigations of the growth mechanism of self-assembled alkylsiloxane films by atomic force microscopy, ellipsometry, and infrared spectroscopy / Johann Foisner
VerfasserFoisner, Johann
Begutachter / BegutachterinFriedbacher, Gernot
Erschienen2003
Umfang84 Bl. : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftWien, Techn. Univ., Diss., 2003
Anmerkung
Zsfassung in dt. Sprache
SpracheEnglisch
Bibl. ReferenzOeBB
DokumenttypDissertation
Schlagwörter (GND)Siloxane / Alkylgruppe / Monoschicht / Wachstum / Selbstorganisation / Rasterkraftmikroskopie / Ellipsometrie / Infrarotspektroskopie
URNurn:nbn:at:at-ubtuw:1-11530 Persistent Identifier (URN)
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Investigations of the growth mechanism of self-assembled alkylsiloxane films by atomic force microscopy, ellipsometry, and infrared spectroscopy [6.1 mb]
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