Titelaufnahme

Titel
Application of secondary ion mass spectrometry (SIMS) in the development of new materials / Martin Rosner
VerfasserRosner, Martin
Begutachter / BegutachterinHutter, Herbert
Erschienen2003
UmfangGetr. Zählung : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftWien, Techn. Univ., Diss., 2003
Anmerkung
Zsfassung in dt. Sprache. - Enth. 1 Sonderabdr.
SpracheEnglisch
Bibl. ReferenzOeBB
DokumenttypDissertation
Schlagwörter (GND)Sekundärionen-Massenspektrometrie / Werkstoffkunde / Sekundärionen-Massenspektrometrie
URNurn:nbn:at:at-ubtuw:1-10437 Persistent Identifier (URN)
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Application of secondary ion mass spectrometry (SIMS) in the development of new materials [7.4 mb]
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