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Full name Familienname, Vorname
Entner, Robert
 
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1Grasser, Tibor ; Gös, Wolfgang ; Triebl, Oliver ; Hehenberger, Philipp Paul ; Wagner, Paul-Jürgen ; Schwaha, Philipp ; Heinzl, Rene ; Holzer, Stefan ; Entner, Robert ; Wagner, Stephan ; Schanovsky, Franz 3 Year Report 2005-2007Bericht Report2007
2Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Triebl, Oliver ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Negative Bias Temperature Instability Modeling for High-Voltage Oxides at Different Stress TemperaturesArtikel Article2007
3Karner, M. ; Gehring, A. ; Wagner, M. ; Entner, R. ; Holzer, S. ; Goes, W. ; Vasicek, M. ; Grasser, T. ; Kosina, H. ; Selberherr, S. VSP - A Gate Stack AnalyzerArtikel Article 2007
4Entner, Robert ; Heinzl, Rene ; Nentchev, Alexandre ; Ungersböck, Stephan Enzo ; Wagner, Martin ; Selberherr, Siegfried VISTA Status Report December 2006Bericht Report2006
5Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Influence of Interface and Oxide Traps on Negative Bias Temperature InstabilityKonferenzbeitrag Inproceedings 2006
6Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Investigation of NBTI Recovery During MeasurementKonferenzbeitrag Inproceedings2006
7Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Negative Bias Temperature Instability Modeling for High-Voltage Oxides at Different Stress TemperaturesKonferenzbeitrag Inproceedings 2006
8Karner, Markus ; Gehring, Andreas ; Wagner, Martin ; Entner, Robert ; Holzer, Stefan ; Gös, Wolfgang ; Vasicek, Martin ; Grasser, Tibor ; Kosina, Hans ; Selberherr, Siegfried VSP-A Gate Stack AnalyzerKonferenzbeitrag Inproceedings2006
9Entner, Robert ; Heinzl, Rene ; Hollauer, Christian ; Sheikholeslami, Alireza ; Wittmann, Robert ; Selberherr, Siegfried VISTA Status Report June 2005Bericht Report2005
10Holzer, Stefan ; Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Wagner, Stephan ; Entner, Robert ; Langer, Erasmus ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Three-Dimensional Transient Electro-Thermal Interconnect Simulation for Stress and Electromigration AnalysisKonferenzbeitrag Inproceedings2005
11Entner, Robert ; Gehring, Andreas ; Kosina, Hans ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Impact of Multi-Trap Assisted Tunneling on Gate Leakage of CMOS Memory DevicesKonferenzbeitrag Inproceedings2005
12Entner, Robert ; Gehring, Andreas ; Kosina, Hans ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Modeling of Tunneling Currents for Highly Degraded CMOS DevicesKonferenzbeitrag Inproceedings2005
13Entner Robert - 2003 - Three-dimensional device simulation with Minimos-NT using...pdf.jpgEntner, Robert Three-dimensional device simulation with Minimos-NT using the wafer-state-serverThesis Hochschulschrift 2003