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Wagner, Paul-Jürgen
 
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1Grasser, Tibor ; Rott, K. ; Reisinger, H. ; Wagner, Paul-Jürgen ; Gös, Wolfgang ; Schanovsky, Franz ; Waltl, Michael ; Toledano-Luque, M. ; Kaczer, Ben Advanced Characterization of Oxide Traps: The Dynamic Time-Dependent Defect SpectroscopyKonferenzbeitrag Inproceedings2013
2Grasser, T. ; Rott, K. ; Reisinger, H. ; Waltl, M. ; Wagner, P. ; Schanovsky, F. ; Goes, W. ; Pobegen, G. ; Kaczer, B. Hydrogen-related volatile defects as the possible cause for the recoverable component of NBTIKonferenzbeitrag Inproceedings2013
3Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, M. ; Roussel, Ph. J. ; Groeseneken, G. ; Schwarz, Benedikt ; Bina, Markus ; Waltl, Michael ; Wagner, Paul-Jürgen ; Grasser, Tibor Reduction of the BTI Time-Dependent Variability in Nanoscaled MOSFETs by Body BiasKonferenzbeitrag Inproceedings2013
4Wagner, Paul-Jürgen ; Kaczer, Ben ; Scholten, A ; Reisinger, H. ; Bychikhin, Sergey ; Pogany, Dionyz ; Vandamme, L.K.J. ; Grasser, Tibor On the Correlation Between NBTI, SILC, and Flicker NoiseKonferenzbeitrag Inproceedings2012
5Waltl, Michael ; Wagner, Paul-Jürgen ; Reisinger, H. ; Rott, K. ; Grasser, Tibor Advanced Data Analysis Algorithms for the Time-Dependent Defect Spectroscopy of NBTIKonferenzbeitrag Inproceedings2012
6Grasser, Tibor ; Kaczer, Ben ; Reisinger, H. ; Wagner, Paul-Jürgen ; Toledano-Luque, M. On the Frequency Dependence of the Bias Temperature InstabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2012
7Grasser, T. ; Kaczer, B. ; Reisinger, H. ; Wagner, P.-J. ; Toledano-Luque, M. Modeling of the bias temperature instability under dynamic stress and recovery conditionsKonferenzbeitrag Inproceedings2012
8Grasser, T. ; Wagner, P.-J. ; Reisinger, H. ; Aichinger, Th. ; Pobegen, G. ; Nelhiebel, M. ; Kaczer, B. Analytic modeling of the bias temperature instability using capture/emission time mapsKonferenzbeitrag Inproceedings2011
9Grasser, Tibor ; Aichinger, T. ; Pobegen, G. ; Reisinger, H. ; Wagner, Paul-Jürgen ; Franco, J. ; Nelhiebel, M. ; Kaczer, Ben The 'Permanent' Component of NBTI: Composition and AnnealingKonferenzbeitrag Inproceedings2011
10Grasser, Tibor ; Kaczer, Ben ; Gös, Wolfgang ; Reisinger, H. ; Aichinger, T. ; Hehenberger, Philipp Paul ; Wagner, Paul-Jürgen ; Schanovsky, Franz ; Franco, J. ; Toledano-Luque, M. ; Nelhiebel, M. The Paradigm Shift in Understanding the Bias Temperature Instability: From Reaction–Diffusion to Switching Oxide TrapsArtikel Article 2011
11Grasser, T. ; Kaczer, B. ; Goes, W. ; Reisinger, H. ; Aichinger, Th. ; Hehenberger, Ph. ; Wagner, P.-J. ; Schanovsky, F. ; Franco, J. ; Roussel, Ph. ; Nelhiebel, M. Recent advances in understanding the bias temperature instabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2010
12Wagner, Paul-Jürgen ; Grasser, Tibor ; Reisinger, H. ; Kaczer, Ben Oxide Traps in MOS Transistors: Semi-Automatic Extraction of Trap Parameters from Time Dependent Defect SpectroscopyKonferenzbeitrag Inproceedings2010
13Grasser, Tibor ; Reisinger, H. ; Wagner, Paul-Jürgen ; Gös, Wolfgang ; Schanovsky, Franz ; Kaczer, Ben The Time Dependent Defect Spectroscopy (TDDS) for the Characterization of the Bias Temperature InstabilityPräsentation Presentation2010
14Grasser, T. ; Aichinger, Th. ; Reisinger, H. ; Franco, J. ; Wagner, P.-J. ; Nelhiebel, M. ; Ortolland, C. ; Kaczer, B. On the ‘permanent’ component of NBTIKonferenzbeitrag Inproceedings2010
15Gös, Wolfgang ; Schanovsky, Franz ; Hehenberger, Philipp Paul ; Wagner, Paul-Jürgen ; Grasser, Tibor Charge Trapping and the Negative Bias Temperature InstabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2010
16Grasser, Tibor ; Reisinger, Hans ; Wagner, Paul-Jürgen ; Kaczer, Ben Time-Dependent Defect Spectroscopy for Characterization of Border Traps in Metal-Oxide-Semiconductor TransistorsArtikel Article2010
17Grasser, Tibor ; Reisinger, H. ; Wagner, P. ; Kaczer, Ben ; Schanovsky, Franz ; Gös, Wolfgang The Time Dependent Defect Spectroscopy (TDDS) for the Characterization of the Bias Temperature InstabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2010
18Goes, Wolfgang ; Schanovsky, Franz ; Hehenberger, Philipp ; Wagner, Paul-Juergen ; Grasser, Tibor (Invited) Charge Trapping and the Negative Bias Temperature InstabilityBuchbeitrag Book Contribution2010
19Baumgartner, Oskar ; Ertl, Otmar ; Orio, Roberto ; Wagner, Paul-Jürgen ; Windbacher, Thomas ; Selberherr, Siegfried VISTA Status Report December 2009Bericht Report2009
20Wagner, Paul-Jürgen ; Aichinger, T. ; Grasser, Tibor ; Nelhiebel, M. ; Vandamme, L.K.J. Possible Correlation between Flicker Noise and Bias Temperature StressKonferenzbeitrag Inproceedings2009

Contributing Publications Mitbeteiligte Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Braitner, Markus Erstellung und Verifikation von Modellen für Leistungs-MOSFETs für die quantitative EMV-SimulationThesis Hochschulschrift2012
2Waltl Michael - 2011 - Change point detection in time dependent defect...pdf.jpgWaltl, Michael Change point detection in time dependent defect spectroscopy dataThesis Hochschulschrift 2011