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Full name Familienname, Vorname
Posch, Florian
 
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1Posch Florian - 2015 - Fehlerabschaetzung fuer die energiedispersive...pdf.jpgPosch, Florian Fehlerabschätzung für die energiedispersive Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse des Kalibrierungselements Nickel an einer ATOMIKA 8030W AnlageThesis Hochschulschrift 2015
2Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polgnano, M.L. ; Codegoni, C. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Investigation of Spin-coated inorganic contamination on Si surfacs by various analytical techniquesPräsentation Presentation2010
3Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing Various Analytical Techniques With Different Lateral Resolution By Investigating Spin-coated Inorganic Contamination On Si SurfacesKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
4Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Highly sensitive detection of inorganic contaminationKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
5Streli, Christina ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. ; Fugger, Manfred Accreditation for wafer surface analysis with TXRFBericht Report2009
6Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing various analytical techniques with different lateral resolution by investigating spin-coated inorganic contamination on Si surfacesPräsentation Presentation2009
7Streli, Christina ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. ; Fugger, Manfred Accreditation for wafer surface analysis with TXRFPräsentation Presentation2009
8Streli, Christina ; Posch, F. ; Fugger, Manfred ; Havrilla, G.J. ; Fittschen, U. Accreditation (EN ISO 17025) for an Atomika 8030W wafer analyzerPräsentation Presentation2009